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測試服務(wù)

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光譜橢偏儀測試(n&k和膜厚)
時(shí)間:2024-10-30 15:27:44 點(diǎn)擊次數(shù):41

設(shè)備品牌:J.A.Woollam

型號:RC2 D


主要技術(shù)參數(shù):

波長:193-1000nm

樣品臺:200mm×200mm


主要用途:

用于測量光刻膠、SiO2、SiNx、ITO等各類薄膜的光學(xué)常數(shù)n&k和薄膜厚度。

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