聯(lián)系電話
郵箱地址
QQ客服
設(shè)備品牌:E+H Metrology
型號(hào):MX 608
主要技術(shù)參數(shù):
測(cè)量原理:渦流非接觸測(cè)量(電阻率),電容法(厚度)
電阻率范圍:1 mΩ?cm-200 Ω?cm
方塊電阻:1mΩ/sq-4000 Ω/sq
樣品臺(tái):200mm×200mm
主要用途:
用于測(cè)量SiC,Si襯底厚度/TTV及電阻率、金屬薄膜電阻率/方塊電阻。
上一篇:膜厚儀測(cè)試(膜厚及反射率)
下一篇:激光粒度儀測(cè)試(粒徑大小及分布)
如果您有任何問(wèn)題,請(qǐng)跟我們聯(lián)系!
聯(lián)系我們
Copyright ? 2022 上海求峰儀器設(shè)備有限公司 滬ICP備2022031662號(hào)-1
地址:上海市閔行區(qū)興梅路1199弄40號(hào)樓
咨詢?cè)诰€客服
服務(wù)熱線
13651773242
掃一掃,關(guān)注我們