產(chǎn)品名稱(chēng):四探針測(cè)試儀
品牌:Four Dimensions(4D)
型號(hào):280SI/333A
關(guān)鍵詞標(biāo)簽:方塊電阻、四探針、電阻率
一、簡(jiǎn)介
美國(guó)Four Dimensions,Inc, 簡(jiǎn)稱(chēng)“4D”,成立于1978年,位于美國(guó)加州硅谷的Hayward, 4D公司專(zhuān)注于四探針設(shè)備和CV測(cè)試儀的生產(chǎn)和銷(xiāo)售,累計(jì)銷(xiāo)量達(dá)1000臺(tái)以上,遍布世界各大半導(dǎo)體Fab, 太陽(yáng)能光伏企業(yè),大學(xué)及科研機(jī)構(gòu),“4D”更是儼然已成為四探針的代名詞。
二、技術(shù)規(guī)格
測(cè)量尺寸:晶圓尺寸:2-8寸(333系列可測(cè)量至12寸晶圓)
測(cè)量范圍: 0.001Ω/sq 至 800000Ω/sq(標(biāo)準(zhǔn)型);
可往下擴(kuò)展至:0.0001Ω/sq,往上擴(kuò)展至8E9或8E11Ω/sq。
測(cè)量方式:電腦程序自動(dòng)測(cè)量,或不連電腦單測(cè)量主機(jī)也可實(shí)現(xiàn)測(cè)量和數(shù)據(jù)顯示,此時(shí)非常適合測(cè)試不規(guī)整樣片單點(diǎn)測(cè)量,適合實(shí)際研究需要。
測(cè)量的數(shù)據(jù):方塊電阻/電阻率/薄膜厚度,根據(jù)具體應(yīng)用可以設(shè)置不同測(cè)量程序。
測(cè)量的點(diǎn)數(shù):程序編排任意測(cè)量點(diǎn)位置及測(cè)量點(diǎn)數(shù)量,對(duì)應(yīng)不同客戶(hù)不同測(cè)量要求任意編程測(cè)量點(diǎn)位置與數(shù)量。
測(cè)量的精確度:<0.1% (標(biāo)準(zhǔn)模阻);
測(cè)量重復(fù)性:<0.2% (特定片子);
測(cè)量速度:>45點(diǎn)/分鐘;
測(cè)量數(shù)據(jù)處理:根據(jù)需要顯示2D,3D數(shù)值圖,或按要求統(tǒng)計(jì)并輸出Excel格式文件;
邊緣修正:具有邊緣修正功能,即片子邊緣3mm以?xún)?nèi)區(qū)域都能測(cè)量;
探針壓力可調(diào)范圍:90-200克之間可調(diào);
可供選擇的探頭類(lèi)型:根據(jù)測(cè)試不同工藝要求有A, B,K, M, N等相關(guān)型號(hào)探頭選擇。
三、應(yīng)用
應(yīng)用于金屬鍍膜和擴(kuò)散,離子注入等摻雜工藝監(jiān)控調(diào)試,薄膜電阻率或厚度測(cè)量等工序。